良率分析工程师（Yield Analysis Engineer）(J133...

职位描述 负责芯片制造过程中良率数据的系统性分析，识别关键瓶颈环节，推动良率提升。聚焦电性测试结果中的失效模式解析，结合测试诊断与制程在线数据（Inline），定位潜在工艺风险，协同跨部门团队完成问题闭环。开展晶圆级及最终测试（FT）良率数据分析，识别关键 Fail Bin 及低良率模式； · 深入理解测试程序结构与诊断机制（如 Scan DFT、ChainSA、Memory BIST、IDDQ 等），解析 Failure Signature； · 对比良率数据与 Inline 制程参数（如 CD、膜厚、缺陷密度、电性监控等），建立关联性分析模型； · 利用数据分析平台（如 JMP、Python、SQL、Tableau 等）进行多维度数据挖掘，定位异常工艺窗口或模块； · 主导或支持低良率批次（Low Yield Lot）的快速响应分析（RRA），输出初步根因判断； · 协同测试工程、器件…… 完整岗位描述与官方投递入口,请登录后在岗位详情页查看。

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