芯片测试部-测试性设计(DFT)博士后（先进芯片测试与标准前沿研究中心）

（1）基于经典电学和数值方法的数模电路结构化缺陷分析与测试性设计，支撑纵向、横向项目 （2）基于人工智能（如图神经网络的）的数模电路建模、缺陷分析与测试性设计，仿真技术开发，支撑纵向、横向项目 【任职要求】 教育背景：具有计算机、数学、电子、物理、材料的博士学历，毕业不超过3年，35岁以下； 能力素质： -精通半导体器件或人工智能算法； -精通spice类仿真器或JTAG/IJTAG； -熟练掌握至少一种如Python、Matlab或其他编程语言； -具有英语论文写作能力；

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